一、温度冲击试验目的

温度冲击试验主要考核电路板、整机、部件级、芯片级产品在经受周围大气环境的急剧变化时，设备外观、电性能等是否会受到影响和失效。

二、温度冲击试验试验参数

高温温度极限值、低温温度极限值、温度转换时间、高温极值保持时长、低温极值保持时长。

三、温度冲击试验的温度转换时间通常为多久？

1.对于普通的电工电子设备，通常要求温度转换时间为≤3分钟，若采用两箱法测试时，由于产品尺寸过大，没法在3分钟以内实现转换的，可以适当延长转换时间。

2.对于非民用系统或设备，通常要求温度转换时间应尽可能的短，通常要求≤1分钟。

3.对于器件芯片级的产品，所要求的温度转换时间最短，有的要求在10秒钟以内实现温度转换。

四、温度冲击试验设备

1. 可用两个高低温试验箱，采用人工搬运的方式，将样品在两台普通温度试验箱中转移，实现转换时间≤3分钟。

2. 提篮式温度冲击试验箱

提篮式温度冲击试验箱由热箱、冷箱和提篮组成。样品被放置在提篮里面，并由机械结构带动提篮在热箱和冷箱之间移动。

3. 风门式温度冲击箱

风门式温度冲击箱也叫三箱式温度冲击箱，是由冷箱、热箱、试验舱组成。受试产品被放置在实验舱，冷箱和热箱各设计有一个风门，并通过程序控制，自动将热空气或冷空气送入实验舱。通常风门式温度冲击箱还设计有环境空气交换用的风门，用于在切换温度时，将实验舱内的冷热空气与环境空气交换，以达到节能和加快温度转换的目的。

五、温度冲击试验标准

GB/T2423.22-2012《环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化》；

IEC60068-2-14:2009《环境试验 第2-14部分: 试验方法 试验N: 温度变化》；

GJB150.5A-2009《装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验》；

GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法》；

GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》。

检测试验找彭工136-9109-3503。

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