射频辐射抗扰度测试是评估电子设备在遭受外部射频电磁场干扰时，能否保持正常工作能力的关键测试，广泛应用于消费电子、工业控制、医疗设备和汽车电子等领域 。该测试旨在模拟现实环境中各类射频源（如手机基站、广播电台、Wi-Fi信号等）对设备的电磁影响，验证其在复杂电磁环境下的稳定性与可靠性 。若设备抗扰能力不足，可能出现死机、通信中断、数据错误或显示异常等问题，严重时甚至影响人身安全 。

试验等级:

1级：1V/m

2级：3V/m

3级：10V/m

4级：30V/m

射频电磁场辐射抗扰度试验设备：

√ 电波暗室:具有合适的尺寸,能维持相对于EUT来说具有足够空间的UFA。另外可额外安装一些吸收材料可以减弱室内的反射。

√ 电磁干扰(EMD)滤波器:应注意确保滤波器在连接线路上不致引起谐振效应。

√ 射频信号发生器:产生的信号能够覆盖所有试验的频带,并且至少能够进行表2中规定的幅度调制。为了避免谐波导致的问题,必要时采用低通或带通滤波器。

√ 功率放大器:用于放大信号(未调制的和调制的)并提供驱动天线达到所需场强等级的功率。

√ 场强发射天线:能够满足频率特性要求的双锥、对数周期、喇叭或其他线性极化天线系统。

√ 各向同性场强探头:具有足够的频率范围和灵敏度来测量产生的场强(关于电场探头的电平设置方法。

√ 正向功率测量装置:可使用定向耦合器和功率计,或在放大器和天线之间插入正向功率检测器或监视器。

√ 辅助设备AE:用于记录试验规定场强所需的功率电平和控制产生试验场强的电平。

试验结果的评定：

试验结果应按EUT的功能丧失或性能降级进行分类。这些分类与制造商、试验申请者规定的,或者制造商与用户之间商定的性能等级有关。推荐的分类如下:

a)在制造厂或委托方或用户规定的技术规范限值内性能正常;

b)功能暂时丧失或性能暂时降低,但在干扰停止后EUT能自行恢复,无须操作者干预;

c)功能暂时丧失或性能暂时降低,但需操作者干预才能恢复正常;

d)因硬件或软件损坏,或数据丢失而造成不能自行恢复至正常状态的功能丧失或性能降低。

试验结果的评估判定应基于EUT在驻留时间内的性能。EUT性能评价宜以单个信号的影响系为基础。如果在试验过程中使用了多信号试验,宜确保任何记录的性能下降是由单个试验信号造成的,而不是由多个试验信号的组合造成的。该分类方法可作为产品委员会制定通用、产品或产品类标准性能判据的指南,或作为制造商与用户之间协商的性能判据的框架,例如在没有合适的通用、产品或产品类标准时。

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