奥林巴斯 BX53-P 偏光显微系统是专为偏振光观察设计的高级研究级设备，结合了 UIS2 无限远校正光学系统和先进的设计元素。BX53-P 在多种科研和工业领域中提供了卓越的图像质量和高度灵活性。

核心优势

高清图像质量

BX53-P 配备 UIS2 光学系统，即使在集成偏光元件（如检偏器、补偿器等）的情况下，也能确保高质量成像。该系统消除了传统有限光学系统的放大误差，提升了图像清晰度和对比度。

灵活扩展性

BX53-P 支持 BX3 系列显微镜的各种中间附件，便于根据具体需求进行功能扩展。它能够连接各种相机和成像系统，实现高效的图像采集与分析，适用于多种应用场景。

锥光与正交光观察

BX53-P 提供了锥光和正交光两种观察模式，并配备可调焦 Bertrand 镜头，用于清晰显示后焦面干涉图样。内置视场光阑保证每次都能获得锐利的锥光图像，适合结构分析。

多类型补偿器支持

BX53-P 提供六种不同类型的补偿器，覆盖广泛的延迟等级，满足不同材料的测量需求。包括厚 Berek 补偿器、Berek 补偿器、Senarmont 补偿器、Brace-Koehler 补偿器和石英楔补偿器等，每一种都有其特定的应用场景。

低应变光学元件

所有偏光物镜内部应变极低，显著提高了 EF 值，从而获得了更优的图像对比度和均匀性。

精密旋转载物台

BX53-P 配备了旋转中心机构，确保样品平稳旋转。载物台上设有 45° 定位卡槽，便于精确角度测量。可选配双机械载物台，以实现精确定位和 XY 移动，特别适合复杂样品的操作。

应用领域

BX53-P 广泛应用于多个领域，例如地质学中的岩石薄片分析、矿物鉴定和构造分析；材料科学领域的聚合物、液晶和复合材料的双折射特性研究；以及工业检测中的纤维分析、应力测试和透明材料的质量评估。此外，在物理实验和工程演示方面也具有重要价值。

技术参数概览

光学系统：UIS2 无限远校正光学系统

观察方式：明场、偏光、锥光、使用补偿器进行定量分析

载物台：360° 旋转平台，带 45° 定位卡槽；可选配双机械载物台

光源：卤素灯/LED 可选，亮度均匀稳定

兼容性：支持 BX3 系列附件及主流成像系统

奥林巴斯 BX53-P 偏光显微系统集成了高清成像、灵活扩展性和准确测量于一身，是科研人员和工作者的理想选择。无论是在地球科学研究、材料工程还是其他需要高精度偏光观察的领域，BX53-P 都能提供可靠的数据支持和优质的使用体验。

奥林巴斯显微镜：https://industrial.evidentscientific.com.cn

产品链接：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/microscopes/upright/bx53f2-p/

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